破坏性物理分析DPA半导体检测

破坏性物理分析（DPA）

讯科标准提供覆盖被动元件、分立器件和集成电路在内的元器件破坏性物理分析（DPA）服务，其中针对先进半导体工艺，具备覆盖7nm以下芯片DP A分析能力，将问题锁定在具体芯片层或者um范围内，针对有水汽控制要求的宇航级空封器件，提供PPM级内部水汽成分分析，保证空封元器件特殊使用要求。

服务范围

集成电路芯片、电子元件、分立器件、机电类器件、线缆及接插件、微处理器、可编程逻辑器件、存储器、AD/DA、总线接口类、通用数字电路、模拟开关、模拟器件、微波器件、电源类等。

检测标准

GJB128A-97半导体分立器件试验方法

GJB360A-96电子及电气元件试验方法

GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

GJB7243-2011军用电子元器件筛选技术要求

GJB40247A-2006军用电子元器件破坏性物理分析方法

QJ10003-2008进口元器件筛选指南

MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法

MIL-STD-883G微电子器件试验方法和程序

检测项目

非破坏性项目：外部目检、X射线检查、PIND、密封、引出端强度、声学显微镜检查；破坏性项目：激光开封、化学开封、内部气体成分分析、内部目检、SEM检查、键合强度、剪切强度、粘接强度、IC取芯片、芯片去层、衬底检查、PN结染色、DB FIB、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测、ESD测试

相关资质

CNAS

服务背景

电子元器件制造工艺质量一致性是电子元器件满足其用途和相关规范的前提。大量假冒翻新元器件充斥着元器件供应市场，如何确定货架元器件真伪是困扰元器件使用方的一大难题。

我们的优势

*提供覆盖被动元件、分立器件和集成电路在内的元器件破坏性物理分析，其中针对先进半导体工艺，具备覆盖7nm以下芯片DPA分析能力，将问题锁定在具体芯片层或者um范围内；

*针对有水汽控制要求的宇航级空封器件，提供PPM级内部水汽成分分析，保证空封元器件特殊使用要求。