高压蒸煮第三方可靠性测试
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更新时间:2024-07-02 09:00:00
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详细介绍
高压蒸煮试验采用高压高湿条件,主要考核塑料封装的半导体集成电路和空封器件等电子器件的综合影响,是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热和密封的能力,常用于产品开发、质量管控
高压蒸煮试验采用高压高湿条件,主要考核塑料封装的半导体集成电路和空封器件等电子器件的综合影响,是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热和密封的能力,常用于产品开发、质量管控