电子技术专用材料老化测试范围包括半导体材料（如硅、锗等）、电路模块、连接器、电路板、电池、塑料、橡胶和其他相关材料。测试条件的标准条件包括高温高湿（THH）、恒温恒湿（RHR）、耐紫外线老化（UV）、机械冲击试验（SCH）、热冲击试验（CTE）等。具体介绍如下：

1. 高温高湿（THH）：测试条件为温度60℃，相对湿度95%，试验时间不少于1000小时。这种测试方法主要用于模拟高温高湿环境下材料的老化过程，评估材料性能的变化。
2. 恒温恒湿（RHR）：测试条件为温度20℃±2℃，相对湿度RH50%±5%，试验时间不少于168小时。这种方法可以模拟温度和湿度同时变化的环境，用于评估材料的耐候性和机械性能。
3. 耐紫外线老化测试（UV）：主要测试材料在紫外线辐射下的性能变化，用于评估材料的耐候性。测试条件为室内人工光源与人工气候环境相结合，模拟紫外线辐射和温度变化同时作用的环境。
4. 机械冲击试验（SCH）：用于模拟材料在运输和使用过程中可能遇到的各种冲击和碰撞，评估材料结构的完整性。
5. 热冲击试验（CTE）：用于测试材料在不同温度下的热胀冷缩性能，评估材料在不同温度环境下的结构稳定性。

以上是对电子技术专用材料老化测试范围及标准条件的简要介绍。需要注意的是，不同的测试项目和标准条件适用于不同的材料和场景，需要根据具体情况进行选择和设置。同时，为了保证测试结果的准确性和可靠性，需要严格控制测试环境和操作过程。