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电路板温度冲击测试标准

发布:2023-06-01 18:13,更新:2024-04-22 09:00

电路板温度冲击测试标准

测试项目

电路板温度冲击测试指的是将电路板在不同温度下进行循环测试,以检测其在温度变化下的机械性能和可靠性。测试项目包括:

测试项目测试方法
温度范围室温-150℃
温度变化率zui快15℃/S
测试次数至少5000次

测试依据

电路板在实际应用中可能会遭受各种温度变化和冲击,如高温烤箱、低温保鲜库、冷热水浸泡等。因此,进行电路板温度冲击测试是确保其可靠性和长寿命的必要步骤。

测试标准

电路板温度冲击测试标准基于国际电工委员会(IEC)、欧洲电子制造协会(ESIA)和美国电子产业联合会(ECIA)的相关标准,包括:

测试标准内容
IEC 60068-2-14气候试验--第2部分:试验Nb:温度冲击
ESIA JEDEC JESD22-A104C温度循环测试
ECIA JEDEC J-STD-020D必要环境应力下的可靠性试验要求

电路板温度冲击测试是确保电路板可靠性和长寿命的必要步骤,测试项目包括温度范围、温度变化率和测试次数,测试标准基于国际电工委员会(IEC)、欧洲电子制造协会(ESIA)和美国电子产业联合会(ECIA)的相关标准。

联系方式

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